HD-SZT-2C/SZT-C四探针测试仪

技术参数: 1）． 测量范围： 电阻率：10-5～105 Ω.cm 方块电阻：10的-4次方 ~10的6 次方Ω/□ 电阻：10-5～105 Ω； ·2）． 可测半导体材料尺寸 直径：5mm-250mm 长度：任意（需要配笔试探头） ·3）． 测量方法： 轴向、断面均可

型号：HD-SZT-2C/SZT-C    访问量：1795    厂商性质：经销商