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四探针测试仪

产品时间:2019-08-01

简要描述:

技术参数:

1). 测量范围:
电阻率:10-5~105 Ω.cm

方块电阻:10的-4次方 ~10的6 次方Ω/□
电阻:10-5~105 Ω;
·2). 可测半导体材料尺寸
直径:5mm-250mm
长度:任意(需要配笔试探头)
·3). 测量方法:
轴向、断面均可

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四探针测试仪 四探针电阻率测试仪 型号:HD-SZT-2C

 

1.HD-SZT-2C主机采用的先进电路设计,所测数值更精、更快、更准(一代为传统式电路,缺点:体积大,速度慢,元器件繁多导致影响机器寿命)。

2.屏幕采用彩色液晶显示(一代为只有数码管显示)。

3.匹配电脑接口及软件,让操作简便明了化(可直接连接电脑,电脑进行自动运算根据输入指定厚度,自动比照并修正系数,使被测结果更精确,数据可储藏或删除,利于使用方保存记录),此为选配件

4.HD-SZT-2C的测试架上的测试台面比传统测试架的测试台面长宽各大100mm,以满足测试大片的需要(若是客人对测试机的尺寸有特殊要求,我们也可以根据客人的尺寸进行定做),采用自动传感装置,接近被测物体时实行自动减速,避免了被测物体的损耗和探头的磨损(于国内市场上任何一款同类产品的测试架,老一代为手动)还有可以提高测量的精度。

5. 本仪器测试电阻、电阻率、方块电阻时,标准系数为机器自带自调,无需另外手工调整,省去了原仪器的诸多麻烦。(这台仪器的压力大小分三档可以调整,此功能为选配件)

6. 本仪器的最小分辨率为0.1mΩ

7.主机手自一体功能,并且测试架也是手动和自动都能一体完成,无需再配两套。

8.测试探头为钨针,市场上多为高速钢针。

9.每次测量均有内置计算机自动进行温度补偿及电压电流矫正。

10.整机测量标准不确定度:≤ 2%(国内其它厂家误差为≤ 5%

11. 技术参数:

1). 测量范围:
电阻率:10-5105 Ω.cm

方块电阻:10-4次方 ~106 次方Ω/
电阻:10-5105 Ω;
·2). 可测半导体材料尺寸
直径:5mm-250mm
长度:任意(需要配笔试探头)
·3). 测量方法:
轴向、断面均可
4). 显示方式:41/2,数显,极性、过载自动显示,小数点、单位自动显示。
5). 恒流源:
(1) 电流输出:直流电流0~100 mA连续可调。各档电流连续可调数字电压表量程及表示形式000.00199.99 mV

(2) 量程:110100μA110100mA
(3) 误差:±0.5%读数±1个字

(4) 分辨力:10μV;输入阻抗>1000MΩ;精度:±0.1%


6).四探针测试探头
(1) 探针间距:1±0.01mm

(2) 材料:碳化钨.探针机械游移率:≤0.3%;

(3) 探针压力:516 牛顿(总力)

 

7) 整机测量最大相对误差(用硅标样片:0.01-180Ω.cm 测试) ≤±5

 

8)电源:220±10% 50Hz60Hz 功耗:35W

 

9) 计算机通讯接口:并口,高速并行采集数据,连接电脑使用时采集数据到电脑的时间只需要1.5 秒(在 0.1mA1mA10mA100mA 量程档时)。连接电脑使用带自动测量功能,自动选择适合样品测试电流量程。

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