KDK-LT-100C数字式硅晶体少子寿命测试仪

1、 可测量太阳能级多晶硅块、单晶硅棒少数载流子体寿命。表面无需抛光，直接对切割面或研磨面进行测量。同时可测量多晶硅检验棒及集成电路、整流器、晶体管级硅单晶的少子寿命。 2、 可测量太阳能级单晶及多晶硅片少数载流子的相对寿命，表面无需抛光、钝化。 3、配备软件的数字示波器，液晶屏上直接显示少子寿命值，同时显示动态光电导衰退波形，并可联用打印机及计算机。

型号：KDK-LT-100C    访问量：1694    厂商性质：经销商

TTH-QYJD-2B空盒气压表检定仪

◆测量范围：10～1100hPa ◆准 确 度：±0.01%FS　±0.02%FS ◆控制精度：±0.003%FS 技术指标：　 ◆工作温度：0~40℃ ◆相对湿度：≤90%RH ◆采样通道：8路（RS-232） ◆采样周期：≤0.1S ◆电源电压：AC220

型号：TTH-QYJD-2B    访问量：1225    厂商性质：经销商

HS-DW4822晶体管特性图示仪

集电扫描信号 输出电压范围及电流容量 0～10V 10A（峰值） 0～100V 2A（峰值） 0～500V 0.4A（峰值） 0～5000V 0.005A供二端特性测试（峰值） 基极阶梯信号 阶梯电压 0.5μA/级～200mA/级 分18档 阶梯电压 0.5V/级～1V/级 分5档

型号：HS-DW4822    访问量：1303    厂商性质：经销商

WS-JFZ-01数字式雨量计

主要技术参数 4.1　承雨口直径：Φ200+0.60mm，刃口锐角40～45°； 4.2　分辨力：0.1mm； 4.3　降雨强度测量范围：0.01～8mm/min（毫米/分） 4.4　测量准确度（在0.01～8mm/min雨强范围）： 降水量10mm，测量误差：±0.2mm；降水量≥10mm，测量误差： ±（0.2mm+1%F.S）；

型号：WS-JFZ-01    访问量：1912    厂商性质：经销商

HD-SXD-B 型碳粉荷质比（Q/m）测量仪

主要技术指标 测量范围： 1nC～999nC 测量准确度：不大于1% 使用环境：25℃±5℃；湿度50%RH±10 %RH 电源电压：220V±10% 50Hz

型号：HD-SXD-B 型    访问量：1433    厂商性质：经销商