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  • HD-HS2000负荷测力仪 技术优势

    主要技术指标: 1.本测力仪表与传感器可以组成0.1级~0.3 级的标准负荷测力仪。 2.显示:六位数码管动态扫描显示。 3.测量准确度:0.005%FS。 4.内部分度数:1/65000。 5.传感器的灵敏度范围:1mv/v,1.5mv/v,2mv/v,3mv/v等。 6.供电电源:220vAC±10%,50HZ。 7.传感器的激励电压:5vDC。 8.标定方法:键盘标定。 9.智能多通道,即一

    型号:HD-HS2000    访问量:1991    厂商性质:经销商

  • HD-DRP-II导热系数测试仪(平板稳态法) 技术参数

    技术参数 1、电源:AC 220V; 50HZ 2、热源:加热铜块,采用36V安全电压加热 3、测试材料:硅橡胶、胶木板、珍珠岩、金属铝、空气等,加围框可做颗粒状、粉状、胶状材料。 4、测量温度范围:室温~110℃,精度±1℃; 5、计时部分:范围0~999.9s;分辨率0.1s; 6、 导热系数测量精度:≤10% 7、试样尺寸:Φ130×(1-100)mm 8、导热系数测试范围:0.1~300w

    型号:HD-DRP-II    访问量:2219    厂商性质:经销商

  • HD-DP-AW表面张力检测仪

    表面张力实验装置组成及特点 * 精密数字(微差压)压力计(可配套实验管路接口) 测量范围:-10KPa ~ +10KPa 分 辨 率:1Pa(4 1/2显示)或10Pa(3 1/2显示) *表面张力玻璃仪器: 样品管、 毛细管、 滴液抽气瓶

    型号:HD-DP-AW    访问量:2521    厂商性质:经销商

  • HD-LDV-T2数显粘度计.

    温度精确控制对于测试你的样品的性能变化对预测产品的行为很有帮助。在测量粘度时控制温度有助于确保实验结果的准确性,由于温度控制器采用半导体和内置自动优化温度程序控制组成,升/降温可调,控温精度±0.1。温度控制是由DV-T2数据采集和程控分析软件进行操作,具有的操作性能和灵活性。DV-T2数据采集和程控分析软件可以做流变曲线分析。

    型号:HD-LDV-T2    访问量:2038    厂商性质:经销商

  • HD-CK-X-4显微熔点仪 仪表特点

    仪器特点: 热台是采用不锈钢制造,并有隔热保护装置。 温度控制是具有国内的模糊逻辑控制技术,P.I.D控制技术,数显装置。 热台升温可自行设定,可调,即刻恒温。 测定熔点温度范围:室温—320℃ 工作区域:30*30mm,中心孔直径4mm 控制精度:±0.5% 温度显示精度:±1℃ X-4精密恒温工作台

    型号:HD-CK-X-4    访问量:2387    厂商性质:经销商

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